32.768KHz晶振测试仪

CX-118A型晶振测试仪

1．概述

CX-118A型晶振测试仪使用微处理器技术，实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度，灵敏度，速度快，闸门时间可选；具有频率测量、周期测量、PPM 测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能；中心频率（标称频率）F0、分档值Pr1～Pr8(ppm) 、上限频率FU、下限频率FL 可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。

2．主要特征

2．1本机采用倒数计数技术，测量精度，测量范围宽，真正实现等精度测量，测量速度快，灵敏度。

2．2采用单片微机技术进行周期频率测量和智能化管理，使得仪器具有很的可靠性和优良的性能／价格比。

2．3整机采用大规模集成电路设计，CPLD器件的运用，使仪器元器件大为减少，可靠性有了提高，平均工作时间≥10000h。

•   整机外型美观大方，体积小，重量轻，使用方便。

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3．CX-118A型晶振测试仪技术参数

3.1 测量范围

• · 频率测量：A 通道:1Hz～100MHz；

B 通道:100MHz～1.6GHz(选件)

• · 周期测量：A 通道:10ns～1s

• · PPM测量：-9999～9999ppm

• · 上、下限测量：可根据用户所设定的上限参数FU、下限参数FL 来测量被测频率是否超出上、下限，超限则报警。

• · 分档测量：根据用户所设定的中心频率F0 自动进行分档测量。分档值：Pr1～Pr8 可在 1～999ppm之间任意设置

分档档数：以中心频率F0 为中点左右分成16 档

•   累加计数：计数容量：0～109－1 (选件)

计数方式：键控、门控或外门控可选。

3.2 输入特性

• · 输入阻抗：A 通道: 1M"//40pF B通道: 50"

3.2.2输入耦合方式：AC 3.2.3波形适应性：正弦波、脉冲波

• · 输入电压动态范围:

A通道：30mVrms～250Vp～p

B通道: 30mVrms～1Vrms

3.2.5 A通道低通滤波器：－3dB带宽约 100kHz

3.2.6 A通道衰减：×1或×20

3.3测量误差

3.3.1频率或周期测量误差：±时基误差±触发误差±LSD

100ns

其中：LSD＝─────×被测频率（或被测周期）

闸门时间

触发：当被测信号的信噪比为40dB 时，触发≤0.3%

•   PPM测量：±时基误差±触发误差±LSD

其中：LSD＝(100ns/闸门时间)×106ppm

例如：闸门时间=1s 时LSD＝0.1ppm

闸门时间=0.1s 时LSD＝1ppm

3.3.3计数误差：±1

3.4闸门时间

固定闸门：10ms、100ms、1s、10s 四档可选；

可调闸门：50ms～95ms 分10 档，每档间隔5ms。