高精度晶振测试仪

高精度晶振测试仪

1．概述

CX-118A型晶振测试仪使用微处理器技术，实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高，灵敏度高，速度快，闸门时间可选；具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能；中心频率（标称频率）F₀、分档值P_r1～P_r8(ppm) 、上限频率F_U、下限频率F_L可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。

2．主要特征

2．1 本机采用倒数计数技术，测量精度高，测量范围宽，真正实现等精度测量，测量速度快，灵敏度高。

2．2 采用单片微机技术进行周期频率测量和智能化管理，使得仪器具有很高的可靠性和优良的性能／价格比。

2．3 整机采用大规模集成电路设计，CPLD器件的运用，使仪器元器件大为减少，可靠性有了很大的提高，平均*工作时间≥10000h。

·     整机外型美观大方，体积小，重量轻，使用方便。

3．技术参数

3.1 测量范围

·     频率测量：A通道:1Hz～100MHz；

B通道:100MHz～1.6GHz(选件)

·     周期测量：A通道:10ns～1s

·     PPM测量：-9999～9999ppm

·     上、下限测量：可根据用户所设定的上限参数F_U、下限参数F_L来测量被测频率是否超出上、下限，超限则报警。

·     分档测量：根据用户所设定的中心频率F₀自动进行分档测量。 分档值：P_r1～P_r8可在1～999ppm之间任意设置

分档档数：以中心频率F₀为中点左右分成16档

·     累加计数：计数容量：0～10⁹－1 (选件)

计数方式：键控、门控或外门控可选。

3.2 输入特性

·     输入阻抗： A通道: 1MΩ//40pF

B通道: 50Ω

3.2.2 输入耦合方式：AC

3.2.3 波形适应性：正弦波、脉冲波

·     输入电压动态范围:

A通道：30mVrms～250Vp～p

B通道: 30mVrms～1Vrms

3.2.5 A通道低通滤波器：－3dB 带宽约100kHz

3.2.6 A通道衰减：×1或×20

3.3 测量误差

3.3.1 频率或周期测量误差：±时基误差±触发误差±LSD

100ns

其中：LSD＝─────×被测频率（或被测周期）

闸门时间

触发误差：当被测信号的信噪比为40dB时，触发误差≤0.3%

·     PPM测量误差：±时基误差±触发误差±LSD

其中：LSD＝(100ns/闸门时间)×10⁶ppm

例如：闸门时间=1s时 LSD＝0.1ppm

闸门时间=0.1s时 LSD＝1ppm

3.3.3 计数误差：±1

3.4闸门时间

固定闸门：10ms、100ms、1s、10s 四档可选；

可调闸门：50ms～95ms 分10档，每档间隔5ms。

3.5 晶体振荡器

标称频率：10MHz

频率稳定度：5×10^-6/d

（可根据用户需求，选配更高量级的晶振。

如：1×10^-6/d、5×10^-7/d、1×10^-7/d等）。

3.6 外频标输入

输入频率：10MHz

输入幅度：>1Vp～p 正弦波

3.7 显示

13位0.4吋绿色高亮数码管，三个单位LED指示灯（MHz、kHz、Hz），一个闸门LED指示灯(GATE)，一个外频标LED指示灯(EXT)和一个PPM单位指示灯（PPM）。

3.8 电源

电压：交流220V±10%

频率：50Hz±5%

功耗：<8VA

3.9 外形尺寸：230×250×90(mm)

3.10 质量：<1.5kg

晶振测试盒选配：

晶体测量匹配器：

1Hz    32.768KHZ-20MHz （标配）

20MHz-40MHz ,

40MHz-65MHz

65MHz-100MHz .